經(jīng)過近三個(gè)月的不懈努力，兆維集團(tuán)下屬智裝單元研發(fā)生產(chǎn)的OLED顯示器件亞微米裂紋缺陷自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備近日順利通過客戶廠驗(yàn)，將于4月1日搬入客戶端工廠。該項(xiàng)目的順利交付，標(biāo)志著兆維集團(tuán)在新型OLED顯示缺陷檢測(cè)領(lǐng)域取得重要突破，實(shí)現(xiàn)關(guān)鍵技術(shù)和核心模塊自主可控。

       集團(tuán)堅(jiān)持自主研發(fā)，不斷加強(qiáng)關(guān)鍵核心技術(shù)攻關(guān)，此次根據(jù)客戶需求，研發(fā)的全自動(dòng)外觀檢測(cè)設(shè)備，主要是針對(duì)柔性O(shè)LED顯示面板的圓孔、橢圓孔（雙圓孔）和其它孔邊緣產(chǎn)生的裂紋（Crack）、褶皺、剝離（Peeling）、彩虹紋、隔離柱殘留等缺陷進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)。設(shè)備的軟硬件核心模塊均為自主研發(fā)，涉及高精度光學(xué)成像技術(shù)和深度學(xué)習(xí)技術(shù)、高速頻閃照明和同步控制技術(shù)、微米級(jí)精密運(yùn)動(dòng)控制技術(shù)、以及配套的精密自動(dòng)化系統(tǒng)。設(shè)備可以適用于高速、復(fù)雜背景條件下的微米級(jí)裂紋缺陷等不良的檢測(cè)需求。針對(duì)OLED顯示面板孔邊緣微裂紋檢測(cè)需求設(shè)備的檢測(cè)分辨率可達(dá)到0.5μm，圖像采集時(shí)間不超過2秒，為OLED顯示面板制造過程中亞微米級(jí)裂紋缺陷評(píng)估提供有力支撐。

       設(shè)備的研發(fā)成功，進(jìn)一步夯實(shí)了集團(tuán)在泛半導(dǎo)體視覺檢測(cè)領(lǐng)域的技術(shù)儲(chǔ)備，有助于突破新型OLED顯示器件在線式裂紋缺陷自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備核心技術(shù)“卡脖子”的問題，填補(bǔ)國(guó)內(nèi)外技術(shù)空白，提高核心競(jìng)爭(zhēng)力，為有效推動(dòng)智能裝備產(chǎn)業(yè)平臺(tái)建設(shè)，確保集團(tuán)“十四五”時(shí)期“二二一”核心戰(zhàn)略落地打下堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。