是針對(duì)背光源進(jìn)行點(diǎn)燈檢測(cè)的設(shè)備，可有效擦除背光源表面的灰塵，降低設(shè)備誤檢率，實(shí)現(xiàn)多方位、多角度缺陷圖像的采集，可實(shí)現(xiàn)對(duì)背光源的自動(dòng)快速的點(diǎn)亮，還可實(shí)現(xiàn)快速切線與快速換型。
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